Polarizační mikroskop Nikon ECLIPSE LV100N POL LED je profesionální nástroj pro detailní studium dvojlomných vlastností anizotropních materiálů. Využívá precizní optiku Nikon CFI60-POL, která poskytuje ostrý obraz s vysokým kontrastem a věrným podáním barev – jak při vizuálním pozorování, tak při digitálním snímání. Kombinace diaskopického a episkopického osvětlení zajišťuje univerzální využití, od rutinních analýz až po náročný výzkum v geologii, mineralogii, materiálovém inženýrství a kontrole kvality.
ECLIPSE LV100N POL LED Polarizační mikroskop
Klíčové vlastnosti:
Univerzální osvětlení – diaskopické i episkopické
Mikroskop je vybaven episkopickým i diaskopickým osvětlením, které umožňuje rychlé přepínání mezi metodami pozorování. LED osvětlení s vysokým CRI (12–24 W) v kombinaci se systémem Fly-Eye Lens zajišťuje rovnoměrný jas v celém zorném poli – ideální pro digitální zobrazování a kvantitativní měření.
Pokročilá polarizační optika
Použité objektivy CFI Achromat P a CFI TU Plan Fluor EPI P poskytují mimořádnou ostrost a přesnost obrazu. Strain-free konstrukce optiky eliminuje nechtěné optické deformace, což je zásadní pro spolehlivé výsledky.
Flexibilní mechanické řešení
Centrovatelná pětipozicová revolverová hlavice s DIN slotem, 360° otočný kruhový stolek s aretací po 1° a klik zarážkami po 45° a dlouhý pracovní zdvih 30 mm umožňují pohodlnou práci i s velkými vzorky.
Analýza a kvantitativní měření
Kompatibilita s Berek, Senarmont a Quartz wedge kompenzátory umožňuje pokročilé kvantitativní hodnocení dvojlomných vlastností. Vestavěná Bertrandova čočka usnadňuje přechod mezi ortoskopickým a konoskopickým pozorováním.
Připraven na moderní zobrazování
Mikroskop je optimalizován pro připojení digitálních kamer Nikon a software pro snímání, analýzu a dokumentaci výsledků. Robustní konstrukce a přesné mechanické díly zajišťují dlouhodobou stabilitu měření.
Objevte detaily, které jiné mikroskopy neodhalí.
Nikon ECLIPSE LV100N POL LED kombinuje špičkovou optiku CFI60-POL s diaskopickým i episkopickým osvětlením pro přesné pozorování anizotropních materiálů. Dlouhý pracovní zdvih 30 mm a široká nabídka optických doplňků umožňují provádět jak rutinní analýzy, tak náročný výzkum v geologii, mineralogii i materiálovém inženýrství.

Parametry





