Princip metody
Optické měření tloušťky vrstev je destruktivní metoda, která se používá pro přesné stanovení tloušťky kovových, oxidových nebo smaltových povlaků. Měření se provádí na příčném řezu vzorku, který je následně naleptán a pozorován pod optickým mikroskopem. Tato metoda umožňuje přímé vizuální určení hranice mezi povlakem a podkladem.
Postup měření
- Příprava výbrusu – vzorek se zalije, vybrousí a naleptá tak, aby byl dobře viditelný přechod mezi vrstvami.
- Pozorování pod mikroskopem – pomocí optického mikroskopu se měří tloušťka vrstvy v několika bodech.
- Vyhodnocení – výsledkem je průměrná tloušťka vrstvy, případně profil její rovnoměrnosti.
Využití:
- Galvanické povlaky (např. zinek, nikl, chrom)
- Oxidové vrstvy (např. eloxovaný hliník)
- Smaltované povrchy
- PVD/CVD vrstvy
- Tepelně stříkané povlaky
Výhody:
- Přímé měření skutečné tloušťky
- Možnost sledovat kvalitu rozhraní mezi vrstvou a podkladem
- Vhodné i pro velmi tenké vrstvy (řádově jednotky mikrometrů)
Nevýhody:
- Destruktivní metoda (vzorek je zničen)
- Vyžaduje kvalitní přípravu výbrusu
- Měření je lokální – nemusí reprezentovat celý povrch
ČSN EN ISO 1463 Kovové a oxidové povlaky – Měření tloušťky povlaku – Mikroskopická metoda
ČSN EN ISO 3882 Kovové a jiné anorganické povlaky – Přehled metod měření tloušťky
ČSN EN ISO 2808 Nátěrové hmoty – Stanovení tloušťky nátěru
