3D optické profilometry společnosti Sensofar Metrology využívají různé metody měření. Patří mezi ně Proužková projekce, Ai Focus Variation, Konfokální technologie, Interferometrie a Spektroskopická reflektometrie.
Nyní se blíže podíváme na Spektroskopickou reflektometrii, která měří tenké vrstvy rychle, přesně, nedestruktivně a nevyžaduje žádnou přípravu vzorku.
Tenká vrstva
Když je tenká transparentní vrstva nanesena na povrch vzorku, mění se jeho odrazivost. Systém snímá spektrum odrazivosti vzorku ve viditelné oblasti a porovnává ho se softwarově vypočítaným simulovaným spektrem s modifikací tloušťky vrstvy, dokud nenajde nejlepší shodu. Tloušťka tenkých vrstev je podobná vlnové délce světla a získáváme vlnitou odezvu reflektivity podél celé viditelné oblasti optického spektra.
Přečtěte si související odborné články společnosti Sensofar:
- Improving the measurement of thick and thin films with optical profiling techniques
- Optical stent inspection of surface texture and coating thickness
Klíčové vlastnosti
Pomocí spektroskopické reflektometrie Sensofar lze měřit tenké transparentní vrstvy od 50 nm do 1.5 µm za méně než pět vteřin.
- Transparentní vrstvy od 50 nm do 1.5 µm
- Vyhodnocení za méně než 5 s
- Jeden objektiv pro celý rozsah
- Různé velikosti měřicích bodů (3.5 µm až 40 µm)
Spektroskopickou reflektometrii nabízí systém S neox.
Prohlédněte si také ostatní metody 3D skenování povrchů:
- Proužková projekce
- Ai Focus Variation
- Konfokální technologie
- Interferometrie
3D optické profilometry od španělského výrobce Sensofar Metrology patří k tomu nejlepšímu, co současný trh v oblasti bezkontaktního 3D skenování povrchů nabízí. Jejich přehled najdete v produktové sekci.
